| 品牌 | 正臺ZTCK | 適用領(lǐng)域 | 科研 |
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| 溫度范圍 | -40～+150℃ | 溫度波動度 | ±0.5℃ |
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| 溫度均勻度 | ≤±1.0% | 額定電壓 | 380V |
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| 重量 | 580kg | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
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| 加工定制 | 是 | | |
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浸液式溫度沖擊試驗箱用途：
適用于國防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑 膠、化工業(yè)、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗（沖擊），適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復(fù)抵于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組無一不需要它的理想測試工具.
浸液式溫度沖擊試驗箱滿足標準： GJB150.5-86溫度沖擊試驗 GJB360.7-87溫度沖擊試驗 GJB150.4-86 低溫試驗箱試驗方法 GJB150.3-86 高溫試驗箱試驗方法 IEC68-2-14 試驗N：溫度變化 GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法 GB 2423-22環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化 MIL-STD-202F美軍標準,電子及電氣試驗方法 MIL-STD-883E美軍標準,集成電路失效分析方法
主要參數(shù)
n溫度暴露范圍：+60℃ ～ +150℃/-65℃ ～ 0℃
n測試時間： ≥10minn溫度轉(zhuǎn)換時間：≥30Sn測試方式：試樣放入不同溫度的液體介質(zhì)中型號 | ZT-CTH-27C | ZT-CTH-56C | 模式 | 浸漬在液體介質(zhì)浴中，通過樣品籃的移動到達低溫或高溫槽內(nèi) | 試驗樣品尺寸(mm) | 130×160×130 【W(wǎng)*H*D】 | 160×160×220 【W(wǎng)*H*D】 | 預(yù)冷溫度范圍 | -70℃～0℃ | 預(yù)熱溫度范圍 | +60℃～+200℃ | 溫度沖擊范圍 | -40℃～+150℃/-65℃～+150℃ | 測試時間 | ≥10 mins | ≥10 mins | 轉(zhuǎn)換移動時間 | ≤30s | 溫度偏差 | ±1.0℃ | 溫度波動度 | ±0.5℃ | 使用電源 | AC 3￠5W 380V 60/50Hz |
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