一、溫濕度綜合試驗(yàn)箱用途：

   主要為航天、航空、石油、化工、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，同時(shí)可在試驗(yàn)箱內(nèi)將電振動(dòng)應(yīng)力按規(guī)定的周期施加到試品上，供用戶對(duì)整機(jī)（或部件）、電器、儀器、材料等作溫濕度、振動(dòng)綜合應(yīng)力篩選試驗(yàn)，以便考核試品的適應(yīng)性或?qū)υ嚻返男袨樽鞒鲈u(píng)價(jià)。與單一因素作用相比，更能真實(shí)地反映電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸和實(shí)際使用過(guò)程中對(duì)溫濕度及振動(dòng)復(fù)合環(huán)境變化的適應(yīng)性，暴露產(chǎn)品的缺陷，是新產(chǎn)品研制、樣機(jī)試驗(yàn)、產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過(guò)程*的重要試驗(yàn)手段。

二、溫濕度綜合試驗(yàn)箱特點(diǎn)：

      具有極寬大的溫濕度控制范圍，可滿足用戶的各種需要采用*的平衡調(diào)溫調(diào)濕方式，可獲得安全、精確的溫濕度環(huán)境。具有穩(wěn)定、平衡的加熱加濕性能，可進(jìn)行高精度、高溫度的溫濕度控制。裝備高精度智能化的溫度調(diào)節(jié)器，溫濕度采用彩色液晶觸摸顯示屏，可進(jìn)行各種復(fù)雜的程序設(shè)定，程序設(shè)定采用對(duì)話方式，操作簡(jiǎn)單、迅速。制冷回路自動(dòng)選擇，自控裝置具有隨溫度的設(shè)定值自動(dòng)選擇運(yùn)轉(zhuǎn)制冷回路的性能，實(shí)現(xiàn)高溫度狀態(tài)下的直接啟動(dòng)制冷，直接降溫。

三、滿足條件：

u GB/T5170.5-1996濕熱試驗(yàn)設(shè)備檢定方法 　　

u GB10592.2-1989 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　　　

u GB105589-1989 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　　

u GB10586-1989 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　　

u GB/T2423.1-2001 （IEC68-2-1）試驗(yàn)A 低溫試驗(yàn)方法 　　

u GB/T2423.2-2001 （IEC68-2-2）試驗(yàn)B 高溫試驗(yàn)方法 　

u GJB150.3-1986 高溫試驗(yàn) 　　

u GJB150.4-1986 低溫試驗(yàn) 　　

u GB/T2423.3-2001 恒定濕熱試驗(yàn)方法 　　

u GB2423.22 溫度變化試驗(yàn)方法 　　

u GBT2423.4-1993 交變濕熱試驗(yàn)方法

u GB/T2423.102-2008和JJG190-97《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 KC：高溫試驗(yàn)方法、低溫試驗(yàn)方法、濕熱試驗(yàn)

   方法振動(dòng)試驗(yàn)方法》以及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行各種環(huán)境試驗(yàn)。

u  GB/T3310-91 GB/2423,10-81 JJG190-97 IEC68-2-6（FC）CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、

    NACE、UL、MIL…

四、選型：

ZT-CTH-150Z　   W50×H60×D50 cm         （寬×高×深）

ZT-CTH-306Z　   W60×H85×D60 cm         （寬×高×深）

ZT-CTH-500Z　   W80×H80×D80 cm         （寬×高×深）

ZT-CTH-800Z　   W100×H100×D80 cm     （寬×高×深）

ZT-CTH-1000Z　 W100×H100×D100 cm   （寬×高×深）

五、主要參數(shù)：

1.溫度范圍 ： 0/-20/-40/-50/-60/-70~ 150℃（供選擇）

2.控制穩(wěn)定度 ： ±0.5℃

3.分布均勻度 ：±1.5℃

4.溫度偏差： ≤±2℃

5.正常升溫時(shí)間 ： 常溫RT 20℃~ 150℃小于45分

6.正常降溫時(shí)間： 常溫RT 20~-40℃小于60分鐘.

7.濕度范圍：20％~98％RH ~ （10％~98％RH / 5％~98％RH供特殊測(cè)試條件選擇）

8.濕度波動(dòng)度：±1％RH

9.濕度均勻度：±3.0％RH